IX ESCUELA AACr 2017

Cronograma Curso I, SAXS

Dispersión a bajo ángulo y reflectometría de rayos X. Teoría, análisis de
datos y aplicaciones
CONICET, Bahía Blanca, Noviembre 6 al 10, 2017
Total: 40 horas
Cronograma

 

Lunes 6

Martes 7

Miércoles 8

Jueves 9

Viernes 10

9:00 a 10:45

Teoría básica de SAXS I

Teoría básica de SAXS II

 

SAXS por materiales biológicos y materia blanda I

 

SAXS por materiales biológicos y materia blanda II

Seminario I Seminario II

10:45 a 11:00

 

 

Café

 

 

11:00 a 13:00

Teoría básica de XR I

Teoría básica de XR II

Teoría de ASAXS

Teoría de GISAXS

Seminario III Seminario IV

13:00 a 14:00

 

 

Almuerzo

 

 

14:00 a 16:00

Ejercicios básicos de SAXS I

Ejercicios básicos de XR

Uso de programas de análisis de SAXS I

Análisis de resultados de ASAXS

Revisión general

16:00 a 16:15

 

 

Café

 

 

16:15 a 18:00

Ejercicios básicos de SAXS II

Uso de programas de fitting de XR

Uso de programas de análisis de SAXS II

Análisis de resultados de GISAXS

Examen Final

Cronograma Curso II, DRX

Fundamentos y Aplicaciones de la Difracción de Rayos X de Polvo

Lunes 6 de Noviembre de 2017
9:00-10:45 h


Diego Lamas (UNSAM-CONICET, Argentina)

Clase teórica: Introducción a la Cristalografía y a la Difracción de rayos X: fundamentos y aspectos históricos

10:45-11:00 h

Café

11:00-13:00 h

Diego Lamas (UNSAM-CONICET, Argentina)
Clase teórica: Introducción a la difracción de polvos y sus aplicaciones

13:00-14:00 h

Almuerzo

14:00-16:00 h

Daniel Vega (Centro Atómico Constituyentes-CNEA, Argentina)
Clase teórica: Simetría Cristalográfica

16:00-16:15 h

Café

16:15-18:00 h

Daniel Vega y Diego Lamas
Clase práctica: Preparación de muestras y colección de datos

Martes 7 de Noviembre de 2017
9:00-10:45 h


Daniel Vega (Centro Atómico Constituyentes-CNEA, Argentina)
Clase teórica: Fundamentos de la difracción de polvo y aspectos experimentales

10:45-11:00 h

Café

11:00-13:00 h

Daniel Vega (Centro Atómico Constituyentes-CNEA, Argentina)
Clase teórica: Indexación de patrones de difracción de polvo

13:00-14:00 h

Almuerzo

14:00-16:00 h

Susana Conconi (CETMIC-CONICET, Argentina)
Clase teórica-práctica: Análisis cualitativo y uso de bases de datos

16:00-16:15 h

Café

16:15-18:00 h

Daniel Vega (Centro Atómico Constituyentes-CNEA, Argentina)
Clase práctica: Indexación de patrones de difracción de polvo

Miércoles 8 de Noviembre de 2017
9:00-10:45 h


Susana Conconi (CETMIC-CONICET, Argentina)

Clase teórica-práctica: Análisis del ensanchamiento de pico - Tamaño de cristalita y microdeformaciones

10:45-11:00 h

Café

11:00-13:00 h

Daniel Vega (Centro Atómico Constituyentes-CNEA, Argentina)
Clase teórica: Consideraciones de intensidad

13:00-14:00 h

Almuerzo

14:00-16:00 h

Daniel Vega (Centro Atómico Constituyentes-CNEA, Argentina)
Clase práctica: Cálculo de intensidades

16:00-16:15 h

Café

16:15-18:00 h

Susana Conconi (CETMIC-CONICET, Argentina)
Clase teórica-práctica: Análisis cuantitativo

Jueves 9 de Noviembre de 2017
9:00-10:45 h


Susana Conconi (CETMIC-CONICET, Argentina)

Clase teórica: Refinamiento Rietveld (1ª parte)

10:45-11:00 h

Café

11:00-13:00 h

Fabio Furlan Ferreira (Universidade Federal do ABC, Brasil)
Clase teórica: Refinamiento Rietveld (2ª parte)

13:00-14:00 h

Almuerzo

14:00-16:00 h

Susana Conconi y Fabio Furlan Ferreira
Clase práctica: Refinamiento Rietveld

16:00-16:15 h

Café

14:00-18:00 h

Susana Conconi y Fabio Furlan Ferreira (Continuación)
Clase práctica: Refinamiento Rietveld

Viernes 10 de Noviembre de 2017
9:00-10:45 h


Fabio Furlan Ferreira (Universidade Federal do ABC, Brasil)
Clase teórica: Difracción de rayos X de polvo con radiación sincrotrón – Aplicaciones avanzadas

10:45-11:00 h

Café

11:00-13:00 h

Fabio Furlan Ferreira (Universidade Federal do ABC, Brasil)
Clase teórica: Introducción a la determinación de estructuras cristalinas a partir de datos de difracción de polvo

13:00-14:00 h

Almuerzo

14:00-18:00 h

Evaluación (examen escrito)

E-mail: aacr2017@bahiablanca-conicet.gob.ar  Teléfono:  0291-4861666 Int. 364

Auspician:



 

 
       
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